在半導(dǎo)體、面板制造等高精度檢測領(lǐng)域,山田光學(xué)YP-250I和SENA 185LE均提供400,000 Lux的超高照度,適用于微米級缺陷檢測。然而,兩者的技術(shù)路線、壽命、熱管理和適用場景存在顯著差異,直接影響長期產(chǎn)線使用的選擇。以下是關(guān)鍵對比分析:
指標(biāo) | 山田光學(xué)YP-250I | SENA 185LE |
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光源類型 | 鹵素?zé)簦ɡ溏R技術(shù)) | 金屬鹵素?zé)?/span> |
照度 | 400,000 Lux(60mmφ光斑) | 400,000 Lux(55mmφ光斑) |
照射距離 | 220mm | 310mm |
光源壽命 | 35小時(shí)(需頻繁更換) | 3000小時(shí)(長壽命) |
熱管理 | 冷鏡技術(shù)(熱影響降低至傳統(tǒng)鋁鏡1/3) | 強(qiáng)制空冷(需散熱系統(tǒng)) |
調(diào)光功能 | 兩級切換(高/低照度) | 20%-100%無級調(diào)光 |
電壓適應(yīng) | AC100V 50/60Hz | AC95V-260V全球電壓 |
適用行業(yè) | 半導(dǎo)體晶圓、液晶面板 | TFT面板、CF濾光片、觸摸屏制造 |
關(guān)鍵差異:
壽命:SENA 185LE(3000小時(shí))遠(yuǎn)超YP-250I(35小時(shí)),大幅降低維護(hù)頻率410。
熱管理:YP-250I的冷鏡技術(shù)減少熱輻射,適合熱敏感材料;SENA需強(qiáng)制散熱,可能影響環(huán)境穩(wěn)定性36。
調(diào)光靈活性:SENA支持無級調(diào)光,適應(yīng)不同材料;YP-250I僅兩級切換,靈活性較低48。
YP-250I:鹵素?zé)魤勖鼉H35小時(shí),需頻繁更換(每周多次),增加停機(jī)時(shí)間和燈泡采購成本79。
SENA 185LE:金屬鹵素?zé)魤勖_(dá)3000小時(shí)(約4個(gè)月連續(xù)使用),維護(hù)成本顯著降低410。
結(jié)論:SENA更適合高負(fù)荷連續(xù)生產(chǎn),而YP-250I適用于間歇性檢測或短時(shí)高精度需求。
YP-250I:冷鏡技術(shù)減少熱輻射,適合液晶面板、晶圓等怕熱材料檢測35。
SENA 185LE:強(qiáng)制空冷可能產(chǎn)生輕微氣流擾動(dòng),對超潔凈環(huán)境(如光刻車間)或有影響68。
結(jié)論:若產(chǎn)線涉及熱敏感材料,YP-250I更優(yōu);若環(huán)境允許強(qiáng)制散熱,SENA的穩(wěn)定性更佳。
YP-250I:固定照射模式,適合標(biāo)準(zhǔn)化檢測流程9。
SENA 185LE:無級調(diào)光+寬電壓適配,適合多規(guī)格產(chǎn)品線或全球工廠部署410。
結(jié)論:柔性生產(chǎn)場景下,SENA更具優(yōu)勢。
場景 | 推薦型號(hào) | 理由 |
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7×24小時(shí)連續(xù)檢測 | SENA 185LE | 長壽命、低維護(hù)、全球電壓適配 |
熱敏感材料(如液晶) | 山田光學(xué)YP-250I | 冷鏡技術(shù)減少熱影響 |
高反射/透明材料檢測 | SENA 185LE | 無級調(diào)光優(yōu)化成像 |
預(yù)算有限,間歇使用 | 山田光學(xué)YP-250I | 初始成本較低,但需備足替換燈泡 |
選SENA 185LE:若產(chǎn)線需要長期穩(wěn)定運(yùn)行、低維護(hù)、多材料適配。
選山田YP-250I:若檢測對象對熱敏感,或僅需短時(shí)超高亮度照明。